OptiLog

-aseteoptimointi

OptiLog -asetteen optimointi ja simulointi

Oikean asetteen löytäminen on monisyinen ongelma. Siihen vaikuttavat lukuisat tekijät, kuten tukkien muoto, laatu ja kustannukset sekä sahatavaran ja hakkeen hinnat.

OptiLog-ohjelmisto hallitsee näiden tekijöiden vaikutukset. Se laskee niiden perusteella tukeille rahallisesti kannattavimmat asetteet ja mahdollistaa asetelajittelun. Jos sahausasetteita voidaan ohjata reaaliaikaisesti, OptiLog optimoi asetteen tukkikohtaisesti.

Kumpikin menetelmä parantaa saantoa merkittävästi, mikä näkyy vuosikatteessa jopa miljoonina euroina.

OptiLog optimoi asetteet luokittain tai tukkikohtaisesti.

Virtuaalinen sahaus simuloimalla

Mikä tärkeintä OptiLogilla voidaan myös simuloida varastossa olevien tukkien sahaus ja varmistaa ennakolta kannattavin lopputulos.

Kun suunnitellaan esimerkiksi uusien tuotteiden asetteita käyttäen vanhoja tukkiluokkia tai etsitään uusille tukkiluokille sopivinta sahaustapaa vanhoista asetteista, voidaan OptiLogilla sahata tukkierä virtuaalisesti eri asetteilla. Näin järjestelmällä pystytään hakemaan kaikissa tilanteissa optimaaliset asetteet ja varmistamaan jo etukäteen sahauksen tuotto.

Jälkikäteen OptiLogilla voidaan simuloida aiemmin sahattujen tukkierien uudelleensahaus erilaisilla asetteilla, jos tukkilinjan mittaustiedot ovat järjestelmän käytettävissä.

Kaikki informaatio käyttöön

OptiLog liittyy ScanLog-profiilimittarin lisäksi sujuvasti myös muiden valmistajien 2D- tai 3D-mittareihin ja hyödyntää laskennassa niiltä saatavia tietoja. Jos käytössä on röntgenmittari, kuten ScanLog 1X, järjestelmä ottaa optimoinnissa huomioon myös tukin ja lopputuotteen laatutekijät. OptiLog tarkentaa mallejaan jatkuvasti käytettyjen raaka-aineiden ja toteutuneiden tuotantotietojen avulla, jos se voidaan liittää sahalaitoksen ERP-järjestelmään.

OptiLog toimii Windows-ympäristössä. Sen käyttö on havainnollista, ja se tuottaa selkeät raportit laskelmistaan ja sahauksen lopullisista tuloksista. OptiLog voidaan liittää sahan kaikkiin tietojärjestelmiin ja mittalaitteisiin.